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產(chǎn)品分類
Product Category中圖儀器白光干涉儀國(guó)產(chǎn)三維形貌儀SuperViewW是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。
NS系列微納米測(cè)量接觸式臺(tái)階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x器,其主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。它采用了線性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC,具有亞埃級(jí)分辨率,13μm量程下可達(dá)0.01埃。
NS系列納米臺(tái)階測(cè)厚儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x,其采用LVDC電容傳感器,主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量,具有的亞埃級(jí)分辨率和超微測(cè)力等特點(diǎn)。
VT6000高分辨率共焦顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理,主要采用3D捕獲的成像技術(shù)顯微成像測(cè)量,具有較高的三維圖像分辨率。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測(cè),可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。
NS系列薄膜臺(tái)階高度測(cè)量?jī)x采用了線性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC,具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級(jí)的分辨率,同時(shí),其集成了超低噪聲信號(hào)采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測(cè)量精度和測(cè)量重復(fù)性。其主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。
SuperViewW納米級(jí)高精度白光干涉測(cè)量?jī)x用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。
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